如何测量超细粉尘和纳米颗粒？“微”不足道，“纳”没问题，SMPS来帮忙！

Palas® SMPS扫描电迁移率粒径谱仪是先进的纳米颗粒测量系统。

诸多颗粒物研究和监测行业需要对颗粒物监测仪、尘埃粒子计数器、凝聚核计数器CPC、气溶胶粒径谱仪开展计量和量值溯源，也需要对过滤材料、过滤器和空气净化器的过滤效率进行研究和验证。Palas® SMPS是相关应用领域研究人员的得力助手。

• 测量4nm到1200nm的气溶胶粒径分布，准确可靠的粒径分析和计数功能；
• 高达256原始通道能够实现高粒径分辨率；
• 桌面式简便操作，易上手；
• 连接方便，可灵活搭载各种预处理装置（如稀释装置等），超强兼容性和灵活性（可以跟市场主流计数器兼容）；
• 开放式数据文件，读取和分析便捷

适用于各种应用（8–1200 nm）的通用扫描电迁移率粒径谱仪

U-SMPS 2050/2100/2200

通用扫描电迁移率粒径谱仪，集成X射线电离，适用于8 – 1200 nm的各种应用

U-SMPS 2050 X / 2100 X / 2200 X

通用扫描电迁移率粒径谱仪，适合2-400 nm的高浓度应用

U-SMPS 1700

通用扫描电迁移率粒径谱仪，集成X射线电离，适用于4 – 600 nm的高浓度测量

U-SMPS 1700 X

纳米粒子计数器，可配合Nafion®气溶胶干燥器（可选）进行环境空气监测，具有高流量，可测量浓度高达2•10⁶粒子/立方厘米（单计数模式）

ENVI-CPC 200