Description
图1：MFP 2000
Palas®的MFP过滤器测试台已经在开发和质量控制的实际应用中，在世界各地经过多次验证。
MFP过滤器测试台是用于扁平过滤器介质和小微型过滤器的模块化过滤器测试系统。
MFP 2000可用于确定：
• 无粉尘涂层的介质上的压力损失曲线，
• 馏分分离效率，或
• 负荷施加过程中的负荷分离效率
在最短的时间内完成工作–可靠且具有成本效益。
气溶胶发生器易于互换并与整个系统协调。其结果是，可以使用不同的测试气溶胶快速轻松地执行过滤器测试。
借助光散射光谱仪Promo®2000，可以确保清晰可靠地确定气溶胶浓度和粒径，从而确保精确测定馏分分离效率。
测试序列的高度自动化设置以及清晰定义的单个组件和滤波器测试软件FTControl可单独调整的程序，共同提供高度可靠的测量结果。
我们的质量细节
图2：MFP 2000
1.产生多种多样的气溶胶，这要归功于使用不同的粉尘、KCl/NaCl、DEHS等分散剂；缩短测量时间是可能的，例如通过增加粉尘浓度
2.电晕放电（可选）：针对不同质量流量的可调离子流。混合空气，流入速度从0.05到1 m / s可调。可选：瞬时流入。
3.移动式气动过滤器支架，用于快速拆卸和装载试验台。
4.光散射光谱仪Promo®系统集成有Windows测试装置软件，可在高达1000 mg / m3（SAE Fine）的浓度下进行精确的颗粒测量。
5.借助自动序列程序进行过滤器测试，即使未经培训的人员也可以轻松操作。可以完全自动控制测试台。
自动化
MFP 2000集成有质量流量控制器，可用于控制体积流量。这些可以通过FTControl过滤器测试软件进行自动监视和控制。在过滤器测试期间，也会自动记录集成传感器的数据，例如过滤器的体积流量和压差。
馏分分离效率的测量
图3：示例：馏分分离效率比较
• 借助Promo®系统清楚地展示0.2至40 µm整个测量范围内的过滤介质分离效率
• 凭借最高的灵敏度，我们的颗粒测量技术甚至可以显示分离效率的细微差别。
• 优化的气雾剂应用，每次分离效率测量的测量时间短，约为2分钟
• 简单的分离效率曲线比较，也可以计算平均值
采样和布局
MFP 2000测试系统的严格垂直布局仅带有一个采样探针，即使可以排除高达40 µm的较大颗粒，也可以提供清晰的测量结果，因为可以排除沉降损失。这样就可以在整个测量范围内可靠地确定所有粒径分离效率。
负荷/保持时间测量并记录压力损失曲线
图4：示例：保持时间测量
• 粉尘施加过程中馏分分离效率性能测量；可以预先选择压力损失或测量时间作为中止标准
• 以图表和表格形式确定和表示压力损失曲线和保留曲线，80％和95％分离度时的粒径显示提供更多信息。
• 不同加料步骤中馏分分离效率比较
• 缩短测量时间，例如通过增加粉尘浓度
您可以选择的气雾发生器
• RBG 1000
• AGK 2000，具有干燥长管
• PLG 1000
