Description
图1：U-SMPS 1050 X / 1100 X / 1200 X
Palas®通用扫描迁移率粒径分析仪(U-SMPS)有两个版本。U-SMPS带有短分类柱(型号为1050 X /1100 X /1200 X型号)，特别适合对在4-600 nm范围内的粒径分布进行极其精确的测量。已经集成软X射线源作为中和器（见图1）。代替放射性中和（例如使用Kr-85）的优点是在运输过程中无需遵循以下要求。
Palas® U-SMPS系统包括一个分类器【在ISO 15900中定义为差分电迁移率分类器（DEMC），另外也称为差分迁移率分析器（DMA）】，其中气溶胶颗粒是根据其电迁移率加以选择并传递到出口。
然后通过冷凝粒子计数器（例如Palas® UF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC模型可实现各种浓度范围内的最佳单颗粒计数。Wiedensohler教授（德国莱比锡IfT）开发了一种算法，Palas®使用该算法对测量数据进行反演，以产生U-SMPS的粒径分布。
U-SMPS使用触摸屏图形用户界面进行操作。单个粒子分布扫描可以在短短30秒内执行，或者每十倍频率最多执行64个粒度通道，在此期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个粒度通道的计数统计效率更高。集成的数据记录仪允许在设备上线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估（丰富的统计和平均值计算）以及导出功能。
U-SMPS通常作为独立设备运行，也可以使用各种接口（USB，LAN，WLAN，RS-232 / 485）连接到计算机或网络。Palas® U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA，CPC和气溶胶静电计。
U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能尤其重要，特别是对于校准。所有组件都必须通过严格的质量保证测试，并在内部组装。
图2展示U-SMPS的工作原理：气溶胶在进入分类器（DEMC列）之前经过调节。可选的干燥器（例如硅胶，Nafion）可以去除颗粒中的水分。使用双极中和器（XRC 049）以确保测定气溶胶电荷分布。为了去除大于分类器尺寸范围的颗粒，需要在DEMC的入口处使用撞击器。
图2：通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）的工作原理
然后，气溶胶通过入口导入DEMC柱。沿外部电极的气溶胶流在此与鞘气流仔细合并。重要的是在此处避免任何湍流，以确保层流。电极的表面在光滑度和尺寸公差方面必须具有极高的质量。
鞘气是干燥、无颗粒的载气（通常是空气），其体积大于连续在闭环中循环的气溶胶体积。鞘气与样品空气的体积比定义传递函数，从而定义尺寸分类器的分辨率。
通过施加电压，在内外电极之间会产生一个径向对称的电场。内电极在末端带有小缝隙，带正电。通过平衡每个粒子上的电力及其在电场中的空气动力学阻力，带负电的粒子被转移到正电极。根据它们的电迁移率，一些颗粒穿过缝隙并离开DEMC。
在运行过程中，电压和电场不断变化。因此，具有变化迁移率的颗粒将会离开DEMC，并使用纳米颗粒计数器（例如凝聚粒子计数器Palas® UF-CPC）连续测量。
在实际条件下，经过测试的软件为组合数据（电压，粒子数等）并获得粒度分布提供特殊的处理功能，如图3所示。
图3：Palas® DNP 3000粒子发生器所产生的气溶胶粒径分布
用户界面和软件
基于持续的客户反馈，我们设计了良好的用户界面和软件，以实现直观的操作、实时控制并测量数据和参数。
此外，该软件提供了具有集成数据记录器、复杂导出功能和网络支持的数据管理。可使用多种可用方法显示和评估测量数据。
可用系统
以下文档介绍了DEMC与Palas®提供的计数器的各种组合。其他制造商提供的大多数DMA、CPC和气溶胶静电计都可以用作U-SMPS系统的组件。
