随着纳米领域的不断发展，纳米颗粒在光学、电学、生物、环境等科研项目中备受关注。气溶胶粒子的差分电迁移率分级与分析，被应用于环境监测领域纳米到微米的气溶胶粒子测量中，基于其简单的物理原理，而成为气溶胶领域的重要组成部分，如气溶胶仪器、基于气溶胶的材料生产、半导体工业污染控制、大气气溶胶、工程化纳米粒子表征等。同时，带电粒子的电迁移率分级可生成粒径可知的单分散粒子，以用于校准其他仪器。
近日，Palas® SMPS 扫描电迁移率粒径谱仪通过了中国计量科学研究院的检测认定，并获得了其颁发的校准证书。早前，SMPS在欧洲气溶胶校准表征中心（ECAC）检测机构TROPOS的测试结果同样显示了优异的台间差/平行性数据。该实验室的结果再次证明Palas®扫描电迁移率粒径谱仪的准确和可靠性。
定径和计数准确
此次中国计量科学研究院的校准参照JJF 1864-2020气溶胶粒径谱仪校准规定，分别从粒径测量示值误差、颗粒技术效率和计数重复性多个校准项目进行检测。以测量粒径测量示值误差为例：SMPS 的标准值为72.1nm，所测量到的值是74.989nm，示值误差在4.0%。颗粒计数效率方面：SMPS 的标准值为1014个/cm3，所测量到的值是1010个/cm3，计数效率为99.6%。如下图所示，中国计量院校准结果报告证明了Palas® SMPS扫描电迁移率粒径谱仪的两个特点：1.定径准确；2.计数准确。
优异的台间差/平行性
早前，SMPS在欧洲气溶胶校准表征中心（ECAC）检测机构TROPOS的测试结果同样显示了良好的台间差/平行性数据。如下图所示，帕剌斯送检的10套仪器线性均<±5%，完全符合且优于CEN/TS 16976标准。Palas®能够为客户提供规范、稳定、优良的服务，为科研和质量控制等领域提供保障。
符合规范的仪器品牌
Palas®产品可满足JJF 1562—2016《凝结核粒子计数器校准规范》、JJF 1800—2020《气溶胶光度计校准规范》、ISO 15900:2009《 气溶胶颗粒粒径分布的测量差分电迁移法》，JF 1864-2020《气溶胶粒径谱仪校准规范》等相关规范要求来协助计量检测专家完成颗粒物检测设备的校准。Palas® SMPS扫描电迁移率粒径谱仪已被计量院用于呼吸防护过滤效率测试仪的校准和测试等，为各种检测校准任务提供技术支持。
SMPS 扫描电迁移率粒径谱仪
Palas® SMPS扫描电迁移率粒径谱仪，采用纳米颗粒测量系统，可测量4nm到1200nm的气溶胶粒径分布，可以提供稳定的粒径分析和计数功能的同时，原始通道高达256个，能够实现高粒径分辨率。SMPS全系列多组合符合不同浓度、粒径分布范围的气溶胶分析需求，优点多多。例如，它可灵活搭载预处理装置（如稀释装置等），且其操作界面为桌面式设计，简便易学。凭借其开放式数据文件，可读取和分析数据，实现自检测和校准。此外，它具备的灵活性和兼容性，可以与市场主流计数器兼容。
产品优势
· 粒径分布从4nm到1,200nm
· 连续和快速扫描测量原理
· 高分辨率，多达256通道（128通道/十倍粒径）
· 适用于高达108 颗粒/cm3的浓度
· 可连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器
· 图形显示测量值
· 直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI
· 集成数据记录仪
· 支持多种接口和远程访问
· 低维护
· 功能可靠
· 减少您的运营费用
应用领域
· 过滤测试
· 气溶胶研究
· 环境与气候研究
· 吸入实验
· 室内和工作场所测量
Palas®将定期安排针对环境空气颗粒物连续自动监测系统、SMPS扫描电迁移率粒径谱仪、Promo®气溶胶粒径谱仪、气溶胶发生器和稀释系统，以及ISO 16890滤材过滤性能测试台MFP 3000 G、ISO 29463-3 HEPA/ULPA滤材过滤性能测试台MFP Nano plus 4000、ISO 17536油雾分离器过滤性能测试台HMT 1000等气溶胶测量解决方案的在线中英文网络研讨会。欢迎您注册参会，尽快获悉在线研讨会信息！
主题： Palas® SMPS扫描电迁移率粒径谱仪
时间：2022年11月18日，周五 15: 00 – 16: 00
主讲人：邓珺 女士
Palas®中国环境和汽车业务拓展经理
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